日本daiichi-kagaku高精度鏡冷露點儀

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更新日期：2025-05-02

簡要描述：

日本daiichi-kagaku高精度鏡冷露點儀Multi Dew
鏡冷式露點儀?我們根據(jù)在日本銷售的超過1000臺產(chǎn)品的經(jīng)驗，創(chuàng)建了新的高精度鏡冷式露點儀Multi Dew。
采用了易于操作以及優(yōu)異的再現(xiàn)性和響應(yīng)性的觸摸面板。它可以在任何地方使用，例如校準室，實驗室或生產(chǎn)工廠。

詳細介紹

日本daiichi-kagaku高精度鏡冷露點儀Multi Dew

鏡冷式露點儀?我們根據(jù)在日本銷售的超過1000臺產(chǎn)品的經(jīng)驗，創(chuàng)建了新的高精度鏡冷式露點儀Multi Dew。
采用了易于操作以及優(yōu)異的再現(xiàn)性和響應(yīng)性的觸摸面板。它可以在任何地方使用，例如校準室，實驗室或生產(chǎn)工廠。

<<特性>>
?由于新開發(fā)的后視鏡混合傳感器，對濕度變化具有高響應(yīng)性。實現(xiàn)高跟隨性。
?露點±0.15°C dp和溫度±0.1°C的高精度測量。
?寬范圍露點測量-40至+ 120°C dp。
單個Multi Dew可以測量以前需要多個鏡面冷卻露點儀的范圍。
-SD卡記錄功能標準-
與靈活的接口兼容，
RS485和以太網(wǎng)接口是標準設(shè)備以及模擬輸出。

露點測量精度：±0.15°Cdp重復性
：±0.05°Cdp
露點測量范圍：標準傳感器-40至+ 90°Cdp /高溫傳感器-40至+ 120°Cdp
相對濕度范圍：0.45至100rh

[長期精度實現(xiàn)維護的兩項功能]

-動態(tài)污染校正（DCC
）為防止由于包括鏡面在內(nèi)的光路受到污染而導致測量精度下降（由于光源亮度降低而導致的光學平衡損失）。定期重新校正光源平衡的程序。DCC直接參與系統(tǒng)控制，以確保始終獲得z佳測量結(jié)果，并自動消除由于附著在鏡面上的顆粒污染物而引起的任何錯誤。

?過冷狀態(tài)消除功能（FAST技術(shù)）
迄今為止，過冷狀態(tài)是鏡面冷卻露點儀的z大誤差因素之一。當測量露點低于0°C時，由于過冷現(xiàn)象，鏡面上的水可能不會結(jié)霜。
由于露水和霜凍條件之間的飽和水蒸氣壓差，這可能導致約10％的測量誤差。FAST技術(shù)功能可自動控制鏡面處于冰凍狀態(tài)。?

日本daiichi-kagaku高精度鏡冷露點儀Multi Dew

產(chǎn)品規(guī)格

測量精度	±0.15°Cdp（露點） ±0.1°C（溫度）
重復性	±0.05°Cdp
露點測量范圍	標準傳感器：-40至+ 90°Cdp 高溫傳感器：-40至+ 120°Cdp
溫度測量范圍	標準傳感器：-40至+ 90°Cdp 高溫傳感器：-40至+ 120°Cdp
相對濕度范圍	0.45-100相對濕度
反應(yīng)速度	10℃dp / 1min（取決于測量露點范圍）
工作壓力范圍	z大0.1-2.5MPa
連接電纜	3m（標準） z大0.3、5、10和20m（可選）
溫度感應(yīng)器	φ3.0×75mm長 PT100 1/10 DIN Class A
壓力傳感器	精度：±0.25％FSR 測量范圍：0至160 kPa或0至2.5 MPa 連接端口：1/8英寸NPT-M
內(nèi)部計量單位	相對濕度：％，絕dui濕度：g / m3，ppmV，混合比：g / kg，濕球溫度：°C，水蒸氣壓力：Pa，壓力：kPa，Bara，Barg，Psia，Psig
模擬量輸出	0至20mA，4至20mA電流輸出
數(shù)字量輸出	RS485（標準），以太網(wǎng) *可從網(wǎng)站下載PC軟件
報警輸出	無電壓觸點：1A 30Vdc
數(shù)據(jù)記錄	SD卡（可選）
尺寸	機身：220 x 175 x 75毫米
重量	機身：1.5kg 傳感器：200g
展示	5.7”彩色觸摸屏
使用環(huán)境	-20至+ 50°C（無凝結(jié)）
電源供應(yīng)	100-240VAC，50 / 60Hz z大30VA